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Touch Probe 掃描探針

Touch Probe 掃描探針

遵循標準:
簡介:
光學測量是光電技術與機械測量結合的高科技。借用計算機技術,可以實現快速,準確的測量。方便記錄,存儲,打印,查詢等等功能。 據介紹,光學測量主要應用在現代工業檢測,主要檢測產品的形位公差以及數值孔徑等是...本Touch Probe 掃描探針的特點:Touch Probe 掃描探針配備在Vicivision測量系統的光源頂部, 結合具體的光學技術方法和觸摸探針測量系統,使轉動部件實現了完整的測量控制??蓽y量軸向和總軸向跳動長度、平面度、垂直性、鍵槽寬度、鍵槽深度、鍵槽長度。
硬度測試
金相制樣(切割,磨拋,鑲嵌)
顯微鏡
質構儀、物性分析
橡膠制品測試
萬 能試驗機
環境試驗箱
量具
進口打標機
紅外熱像儀
厚度測量
粗糙度儀
探傷儀
長度測量
汽車專用檢測設備
密度濃度計
表面光學檢測
三坐標測量
其他儀器設備

Touch Probe 掃描探針產品介紹

圓柱形零件光學測量機

無與倫比的性能

光學和觸覺功能的結合,使轉動部件實現了完整的測量控制。

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一個測量系統,多種選擇。

一個全新的軸測量功能,結合具體的光學技術方法和觸摸探針測量系統。

 

觸摸式探頭

Vicivision測量系統現在配備了一個Renishaw掃描探針,安裝在光源頂部。探針可以互換,覆蓋整個長度區域。

 

光學與觸覺結合

當光學測量系統快速提供靜態、幾何和螺紋測量、形狀和螺母測量時,觸摸系統檢測不可光學測量的特征。

touch-vicivision-500x427.jpg

光學和觸摸組合可測量:

軸向和總軸向跳動長度;平面度;垂直性

鍵槽寬度;鍵槽深度;鍵槽長度


Touch Probe 掃描探針技術參數


精度

重復性

長度值

3,5 + L/200 μm

1 μm

跳動值

1.2 μm

0.3 μm


Touch Probe 掃描探針相關視頻

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Touch Probe 掃描探針資料下載

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